ГлавнаяАвторы Фам Ван Ты (Вьетнам), аспирант МИРЭА - Российский технологический университет , Москва, Российская Федерация Статьи автора: Применение нечеткого метода анализа иерархий к методу анализа видов и последствий отказов Computational nanotechnology — Выпуск №2 2021 г.: стр.29-36
