Advanced Electron Microscopy Image Processing for Analyzing Amorphous Alloys: Electron Microscopy Image Cluster Analyzer (EMICA). Tool and Results
(Стр. 104-111)

Подробнее об авторах
Дилла Дагим Силеши аспирант, Институт математики и компьютерных технологий; инженер-исследователь, лаборатория электронной микроскопии и обработки изображений; Дальневосточный федеральный университет; г. Владивосток, Российская Федерация
Far Eastern Federal University
Vladivostok, Russian Federation Пустовалов Евгений Владиславович доктор физико-математических наук; профессор, департамент информационных и компьютерных систем, Институт математики и компьютерных технологий; руководитель образовательной программы 09.03.02 «Информационные системы и технологии», профиль «Программирование робототехнических систем»; Дальневосточный федеральный университет; г. Владивосток, Российская Федерация Федорец Александр Николаевич старший преподаватель, департамент информационных и компьютерных систем, Институт математики и компьютерных технологий; Дальневосточный федеральный университет; г. Владивосток, Российская Федерация
Оплатить 390 руб. (Картой) Оплатить 390 руб. (Через QR-код)

Нажимая на кнопку купить вы соглашаетесь с условиями договора оферты

Аннотация:
В данной статье представлен электронно-микроскопический анализатор изображения кластера (EMICA), представляющий собой программный инструмент, основанный на Python, который позволяет обеспечить качественно новый уровень обработки изображений электронной микроскопии для аморфных сплавов. EMICA решает уникальные проблемы, предоставляя специализированные возможности для анализа кластеров и распознавания пространственных шаблонов. В данном исследовании рассмотрено развитие программного обеспечения и его применение на примерах, доказана эффективность применения при анализе аморфных сплавов. Путем интеграции передовых методов обработки изображений и алгоритмов EMICA выявляет скрытые закономерности, определяются количественные показатели распределения кластеров. В статье показаны возможности использования программного приложения в исследованиях в задачах материаловедения, предоставляя специализированное решение для анализа изображений электронной микроскопии в области аморфных сплавов. В статье сделаны выводы, основанные на реальных примерах и кейсах, которые свидетельствуют об эффективности представленного программного обеспечения в выявлении тонких деталей структур аморфных сплавов. Начиная с идентификации тонких вариаций в атомных конфигурациях и заканчивая количественной оценкой распределений кластеров, EMICA представляет собой значительный шаг вперед в области передовой обработки изображений электронной микроскопии, внося значительный вклад в развитие этой области.
Образец цитирования:
ОБРАЗЕЦ ЦИТИРОВАНИЯ: Дагим Силеши, Пустовалов Е.В., Федорец А.Н. Улучшенная электронная микроскопия в обработке изображений для анализа аморфных сплавов: электронно-микроскопический анализатор изображения кластера (EMICA). Инструмент и результаты // Computational Nanotechnology. 2024. Т. 11. № 1. С. 104-111. DOI: 10.33693/2313-223X-2024-11-1-104-111. EDN: DYNPTQ
Список литературы:
Klement W., Willens R.H., Duwez P. Nature. 1960. No. 187. P. 869.
Egami T., Maed K., Srolovitz D., Vitek V. J. Phys. Colloques. 1980. No. 41. Pp. 8–272.
Fratila A., Jimenez-Marcos C., Mirza-Rosca J.C., Saceleanu A. Mat. Chem. Phys. 2023. No. 304. P. 127867.
Modin E.B., Pustovalov E.V., Fedorets A.N. et al. J. Alloys Comp. 2015. No. 641. Pp. 139–143.
Pustovalov E.V., Modin E.B., Frolov A.M. et al. J. Surf Invest: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2019. No. 13. Pp. 600–608.
Pustovalov E.V., Modin, E.B., Kirillov A.V. et al. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2014. No. 78 (9). Pp. 890–893.
Jena P., Castleman A.W. Jr. Nanoclusters: A bridge across disciplines. Burlington, MA: Elsevier, 2010. 593 p.
Sørensen K.H., Jørgensen M.S., Bruix A., Hammer B. J. Chem. Phys. 2018. No. 148 (24). P. 241734.
Ranita, P., Arpita P., Chattaraj P.K. Frontiers in Chemistry. 2021. No. 9. P. 730548.
Ключевые слова:
аморфные сплавы, электронная микроскопия, анализ кластеров, кластеризация, программные инструменты, алгоритмы.


Статьи по теме

Математическое и программное обеспечение вычислительных систем, комплексов и компьютерных сетей Страницы: 112-120 DOI: 10.33693/2313-223X-2024-11-1-112-120 Выпуск №95355
Exploring Amorphous Alloys: Advanced Electron Microscopy and Cluster Analysis
аморфные сплавы электронная микроскопия кластерный анализ металлические стекла функция радиального распределения
Подробнее
Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами Страницы: 30-35 DOI: 10.33693/2313-223X-2023-10-1-30-35 Выпуск №22811
Разработка микропроводов с магнитно-мягким стеклянным покрытием для технологических применений
магнитостатика аморфные сплавы процесс намагничивания магнитострикция утончение
Подробнее
Методы и системы защиты информации, информационная безопасность Страницы: 130-143 DOI: 10.33693/2313-223X-2023-10-3-130-143 Выпуск №23683
Исследование свойств функциональной керамики, синтезированной модифицированным карбонатным методом
импульсное излучение солнечная печь ультразвук активация карбонаты
Подробнее
5.2.2. МАТЕМАТИЧЕСКИЕ, СТАТИСТИЧЕСКИЕ И ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В ЭКОНОМИКЕ Страницы: 150-155 Выпуск №20468
О некоторых специфических ограничениях применения Data Mining
Большие данные информационные технологии анализ данных классификация кластеризация
Подробнее
5. УГОЛОВНОЕ ПРАВО И КРИМИНОЛОГИЯ, УГОЛОВНО-ИСПОЛНИТЕЛЬНОЕ ПРАВО (СПЕЦИАЛЬНОСТЬ 12.00.08) Страницы: 222-224 Выпуск №16680
Меры предупреждения молодежного экстремизма
молодежный экстремизм меры предупреждения образовательные учреждения проекты алгоритмы
Подробнее